X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9200系列

点击图片查看原图
 
品牌: 日立/Hitachi
单价: 面议
起订:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 上海
有效期至: 长期有效
最后更新: 2019-01-15 09:20
浏览次数: 11
询价
 
公司基本资料信息






详细说明
型号 FT9250 FT9255
测量元素 原子序号Ti(22)~Bi(83)
原子序号21以下的元素可通过吸收法测量
X射线源 空冷式小型X射线管
管电压:50(可变更)kV
管电流: 10~1000 µA
检测器 比例计数管
准直器 ○型:0.05, 0.1, 0.2 mmΦ
□型:0.025 × 0.2, 0.2 × 0.025 mm
样品观察 CCD摄像头+变焦光学系统
X射线聚光 激光对焦
滤波器 Co-自动切换
样品区域 X:430 mm, Y:330 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:50 mm
X:700 mm, Y:600 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:15 mm
测量软件 薄膜FP法(最大5层、10种元素)、检量线法
安全功能 样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能

选购项

 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。
是FT3000系列的后续机型。
依据照明,可以看到以前观察困难的样品。
搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。(任选)
搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。(任选)


 
更多>本企业其它产品
日立差示扫描量热仪 DSC7000系列 日立 台式ICP发光分光分析装置 PS7800 高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪 EA1200VX X射线荧光镀层厚度测量仪 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9200系列 热电离质谱仪(邻苯二甲酸酯检查用) HM1000 热电离质谱仪(邻苯二甲酸酯检查用) HM1000A
0相关评论
网站首页  |  石油仪器  |  关于我们  |  联系方式  |  使用协议  |  版权隐私  |  网站地图  |  排名推广  |  广告服务  |  积分换礼  |  网站留言  |  RSS订阅  |  违规举报  |  京ICP证061057号