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日立分析仪器(上海)有限公司

  分析仪器,热分析仪器,粘弹性测定仪器,发光分光分析仪器(ICP),X射线荧光分...

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首页 > 机械设备 > 扫描电子显微镜 FlexSEM 1000
扫描电子显微镜 FlexSEM 1000
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品牌: 日立/Hitachi
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2019-01-15 09:20
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详细信息
  • 型号:FlexSEM 1000
  • 分辨率:4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) 15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式) 5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式)
  • 放大倍率:6× ~ 300,000× (底片倍率) 16× ~ 800,000× (显示倍率)
  • 加速电压(KV):0.3 kV ~ 20
  • 样品台尺寸(mm ):直径80 mm
  • 探测电流:
项目 内容
分解能*3 4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式)
15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式)
5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式)
加速电压 0.3 kV ~ 20 kV
放大倍率 6× ~ 300,000× (底片倍率)
16× ~ 800,000× (显示倍率)
低真空模式 真空范围:6 ~ 100 Pa
电子枪 预对中钨灯丝
样品台 3-轴自动马达台
X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm
R:360°, T:-15° ~ +90°
最大样品尺寸 直径80 mm
最大样品高度 40 mm
尺寸 主机:450(W) x 640(D) x 670(H) mm
供电单元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm
探测器选配
  • 高灵敏度低真空二次电子探测器(UVD)
  • 能量分散型X线探测器(EDS)
*3
主机与供电单元组合使用
*
PC、桌子、机械泵、显示器需要本地采购

紧凑型设计,分辨率为4 nm*1
通过高灵敏度二次电子探测器,背散射探测器,低真空探测器(UVD*2),实现低加速电压/低真空下高质量图像观察
操作简捷,即使新手也能拍出高质量的图片
新开发的导航功能「SEM MAP」,便于快速锁定视野
大窗口(30 mm2)SDD能谱系统,便于快速分析元素成分*2
*1设置在桌面时,分离主机和电源箱*2选配
询价单
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