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日立分析仪器(上海)有限公司

  分析仪器,热分析仪器,粘弹性测定仪器,发光分光分析仪器(ICP),X射线荧光分...

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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9200系列
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品牌: 日立/Hitachi
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2019-01-15 09:20
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详细信息
  • 型号:FT9200
  • 测量对象:镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯
  • 工作原理:
  • 测量范围(Hm):0.01μm
  • 低限分辨率:50nm
  • 可测镀层最薄厚度:15 μm
型号 FT9250 FT9255
测量元素 原子序号Ti(22)~Bi(83)
原子序号21以下的元素可通过吸收法测量
X射线源 空冷式小型X射线管
管电压:50(可变更)kV
管电流: 10~1000 µA
检测器 比例计数管
准直器 ○型:0.05, 0.1, 0.2 mmΦ
□型:0.025 × 0.2, 0.2 × 0.025 mm
样品观察 CCD摄像头+变焦光学系统
X射线聚光 激光对焦
滤波器 Co-自动切换
样品区域 X:430 mm, Y:330 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:50 mm
X:700 mm, Y:600 mm
X:400 mm, Y:300 mm, Z:15 mm
测量软件 薄膜FP法(最大5层、10种元素)、检量线法
安全功能 样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能

选购项

  • 电镀液分析(块体标准曲线)
  • 块体FP法(材料组成分析)
  • 能谱匹配软件(材料辨别)
  • 扫描(强度面分析多点表示)软件
 是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。
是FT3000系列的后续机型。
依据照明,可以看到以前观察困难的样品。
搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。(任选)
搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。(任选)


 
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