镀层测厚仪

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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9200系列

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9200系列

  • 型号:FT9200
  • 测量对象:镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯
  • 工作原理:
  • 测量范围(Hm):0.01μm
  • 低限分辨率:50nm
  • 可测镀层最薄厚度:15 μm

上海

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9300系列

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9300系列

  • 型号:FT9300
  • 测量对象:镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜
  • 工作原理:
  • 测量范围(Hm):0.01μm
  • 低限分辨率:50nm
  • 可测镀层最薄厚度:15 μm

上海

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列

  • 型号:FT9400
  • 测量对象:镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯,其它镀层
  • 工作原理:
  • 测量范围(Hm):0.01μm
  • 低限分辨率:50nm
  • 可测镀层最薄厚度:50nm

上海

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT110A

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT110A

  • 型号:FT110A
  • 测量对象:镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯,其它镀层
  • 工作原理:
  • 测量范围(Hm):0.06*0.06
  • 低限分辨率:50nm
  • 可测镀层最薄厚度:50nm

上海

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT150系列

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT150系列

  • 型号:FT150
  • 测量对象:镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯,其它镀层
  • 工作原理:
  • 测量范围(Hm):型号 FT150(标准型) FT150h(高能量型) FT150L(大型线路板对应) 测量元素 原子序数13(Al)~92(U) X射线源 管电压:45 kV Mo靶 W靶 Mo靶 检测器 Si半导体检测器(SDD)(无需液氮) X射线聚光 聚光导管方式 样品观察 CCD摄像头(100万像素) 对焦 激光对焦、自动对焦 最大样品尺寸 400(W) × 300(D) × 100(H) mm 400(W) × 300(D) × 100(H) mm 600(W) × 600(D) × 20(H) mm 工作台行程 400(W) × 300(D) mm 400(W) × 300(D) mm 300(W) × 300(D) mm 操作系统 电脑、22英寸液晶显示屏 测量软件 薄膜FP法(最多5层膜、10元素)、检量线法、定性分析 数据处理 Microsoft Excel、Microsoft Word 安装 安全功能 样品门联锁 消耗电量 300 VA以下 选购项 能谱匹配软件(材料辨别) 块体FP(测量金属成分比) 样品操作限制设置 晶圆治具(FT150/FT150h) 触摸板 信号灯 打印机 紧急停止开关箱
  • 低限分辨率:400(W) × 300(D) mm
  • 可测镀层最薄厚度:17-30

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