超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列

• 型号：Regulus
• 分辨率：0.7-0.8nm
• 放大倍率：200万
• 加速电压（KV)：
• 样品台尺寸(mm )：以实物为准
• 探测电流：

超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000

• 型号：SU9000
• 分辨率：0.4 nm / 30 kV (SE) 1.2 nm / 1 kV (SE) 0.34 nm / 30 kV (STEM)
• 放大倍率：300万
• 加速电压（KV)：
• 样品台尺寸(mm )：以实际为准
• 探测电流：

汞测定仪 HG-400系列

• 型号：HG-400
• 测量对象：液体,气体,固体,其它
• 汞含量测量范围：检测容积 5 mL： 0 - 500 ng / 5 mL （0 - 100 ppb）
• 汞含量检出下限：0.5 ppt（以5 mL作为检测容积）

自动水分分析仪 AQV-300

微量水分滴定仪 AQ-300

• 型号：AQ-300
• 测量范围（pH,mV)：
• 温度补偿范围℃：1
• 分辨率（pH,mV)：0.01
• 基本误差(±pH,±mV)：
• 性能：自动滴定,手动滴定,恒电位滴定,多滴定模式,专用滴定模式,通讯接口,PC端专用软件,历史数据储存

自动水分分析仪 AQV-2200系列

• 型号：AQV-2200
• 测量范围（pH,mV)：
• 温度补偿范围℃：1
• 分辨率（pH,mV)：0.01
• 基本误差(±pH,±mV)：
• 性能：自动滴定,手动滴定,恒电位滴定,多滴定模式,专用滴定模式,通讯接口,PC端专用软件,历史数据储存

卡尔费休库仑自动滴定仪 AQ-2200系列

• 型号：AQ-2200
• 测量范围（pH,mV)：
• 温度补偿范围℃：1
• 分辨率（pH,mV)：0.01
• 基本误差(±pH,±mV)：
• 性能：自动滴定,手动滴定,恒电位滴定,多滴定模式,专用滴定模式,通讯接口,PC端专用软件,历史数据储存

自动滴定仪 COM-300A

• 型号：COM-300A
• 测量范围（pH,mV)：
• 温度补偿范围℃：1
• 分辨率（pH,mV)：0.01
• 基本误差(±pH,±mV)：
• 性能：自动滴定,手动滴定,恒电位滴定,多滴定模式,专用滴定模式,通讯接口,PC端专用软件,历史数据储存,

自动滴定仪 COM-1700/1750系列

• 型号：COM-1700/1750系列
• 测量范围（pH,mV)：
• 温度补偿范围℃：1
• 分辨率（pH,mV)：0.1
• 基本误差(±pH,±mV)：
• 性能：自动滴定,手动滴定,恒电位滴定,多滴定模式,专用滴定模式,通讯接口,PC端专用软件,历史数据储存

热电离质谱仪（邻苯二甲酸酯检查用） HM1000A

• 型号：HM1000A
• 类型：热电离质谱仪
• 应用范围：有机质谱仪
• 产地：进口

热电离质谱仪（邻苯二甲酸酯检查用） HM1000

• 型号：HM1000
• 类型：热电离质谱仪
• 应用范围：有机质谱仪
• 产地：进口

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9200系列

• 型号：FT9200
• 测量对象：镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯
• 工作原理：
• 测量范围(Hm)：0.01μm
• 低限分辨率：50nm
• 可测镀层最薄厚度：15 μm

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9300系列

• 型号：FT9300
• 测量对象：镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜
• 工作原理：
• 测量范围(Hm)：0.01μm
• 低限分辨率：50nm
• 可测镀层最薄厚度：15 μm

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT9400系列

• 型号：FT9400
• 测量对象：镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯,其它镀层
• 工作原理：
• 测量范围(Hm)：0.01μm
• 低限分辨率：50nm
• 可测镀层最薄厚度：50nm

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT110A

• 型号：FT110A
• 测量对象：镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯,其它镀层
• 工作原理：
• 测量范围(Hm)：0.06*0.06
• 低限分辨率：50nm
• 可测镀层最薄厚度：50nm

X射线荧光镀层厚度测量仪 FT150系列

• 型号：FT150
• 测量对象：镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铑,镀钯,其它镀层
• 工作原理：
• 测量范围(Hm)：型号 FT150（标准型） FT150h（高能量型） FT150L（大型线路板对应） 测量元素 原子序数13（Al）～92（U） X射线源 管电压：45 kV Mo靶 W靶 Mo靶 检测器 Si半导体检测器（SDD）（无需液氮） X射线聚光 聚光导管方式 样品观察 CCD摄像头（100万像素） 对焦 激光对焦、自动对焦 最大样品尺寸 400(W) × 300(D) × 100(H) mm 400(W) × 300(D) × 100(H) mm 600(W) × 600(D) × 20(H) mm 工作台行程 400(W) × 300(D) mm 400(W) × 300(D) mm 300(W) × 300(D) mm 操作系统 电脑、22英寸液晶显示屏 测量软件 薄膜FP法（最多5层膜、10元素）、检量线法、定性分析 数据处理 Microsoft Excel、Microsoft Word 安装 安全功能 样品门联锁 消耗电量 300 VA以下 选购项 能谱匹配软件（材料辨别） 块体FP（测量金属成分比） 样品操作限制设置 晶圆治具（FT150／FT150h） 触摸板 信号灯 打印机 紧急停止开关箱
• 低限分辨率：400(W) × 300(D) mm
• 可测镀层最薄厚度：17-30

日立 EA1000AIII X射线荧光分析仪

• ：EA1000AIII
• 类型：台式
• ：进口品牌

日立 EA1000VX X射线荧光分析仪

• ：EA1000VX
• 类型：台式
• ：进口品牌

高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪 EA1200VX

• ：EA1200VX
• 类型：台式
• ：进口品牌

锂离子电池・燃料电池用 X射线异物分析仪 EA8000

• ：EA8000
• 类型：台式
• ：进口品牌